DRF : Sujet de thèse SL-DRF-21-0456
Mesure de l’exposition aux radiations accidentelles par les défauts radio-induits dans les écrans de smartphones
Lors d’urgence radiologique de grande ampleur, il est nécessaire de disposer de méthodes permettant d’identifier parmi la population les personnes ayant été exposées et nécessitant une prise en charge immédiate. Il n’existe pas de méthodes opérationnelles à ce jour. Les verres des écrans tactiles des smartphones gardent en « mémoire » la trace d’une irradiation aux rayonnements ionisants par le biais de la formation de défauts dits « radio-induits ». La mesure et la quantification de ces défauts ponctuels notamment par spectroscopie à résonnance paramagnétique électronique (RPE) permet d’estimer la dose déposée dans le verre et donc de d’estimer l’exposition associée à l’irradiation. Toutefois ceci n’est pas aisé puisque la plupart des défauts ne sont pas stables et dépendent du type de verre. L’objectif de cette thèse est de proposer des approches ou méthodes permettant de quantifier les défauts ou une partie des défauts susceptibles d’être relier à la dose délivrée. Les défauts qui ne sont pas induits par les UV seront à privilégier.
Laboratoire des Solides Irradiés
Laboratoire des Solides Irradiés
Centre : Saclay
François Trompier
IRSN
Nadege OLLIER
CEA
DRF/IRAMIS/LSI
Laboratoire des Solides Irradiés
Ecole Polytechnique
91128 PALAISEAU cedex
France