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790 Apprentissage Et Pratique MEB
En résumé

2017

3 jours (18 heures)
Saclay
  • 14-16 novembre 2017

2018

3 jours (18 heures)
Saclay
  • 15-17 mai 2018
  • 12-14 juin 2018
  • 13-15 novembre 2018
Parcours de formation associé(s)

Apprentissage et pratique de la microscopie électronique à balayage

Code référence : 790
OBJECTIFS
• Expliquer les bases théoriques de la microscopie électronique.
• Décrire le principe de fonctionnement d'un microscope électronique à balayage (MEB).
• Déterminer les conditions optimales d'observation selon l'échantillon et les informations recherchées.
• Interpréter les contrastes des images électroniques.
• Apprécier les limites d'utilisation de la technique.
PUBLIC
Ingénieurs, techniciens supérieurs, doctorants, post-doctorants.
CONTENU
- Notions de bases théoriques des interactions électron/matière : émission d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés.
- Description et principe d'un MEB : constitution de la colonne électronique, balayage de l'échantillon, formation de l'image.
- Pratique du MEB : 
• acquisition d'images en électrons secondaires et rétrodiffusés, traitement des images,
• interprétation des images : contrastes topographique et chimique,
• réglages du MEB : influence des paramètres (énergie des électrons, taille de sonde, profondeur de champ, distance de travail,  grandissement) sur la résolution des images,
• réglages fins : correction de l'éventuel astigmatisme du faisceau, « wobble ».
- Introduction à la préparation d'échantillons, métallisation.
- Tests réglages et manipulation du MEB, "quizz" sur échantillon tests.
MÉTHODE
La formation est principalement orientée vers la pratique de l'instrument, et se répartit de la façon suivante :
~ 80% du temps est consacré aux travaux pratiques et exercices sur microscope (Jeol 6060LV) : entraînement sur échantillons standards et "quizz" sur échantillons tests ;
~ 20 % aux apports théoriques, explications et réponses aux questions ; visite : démonstration d'un MEB à canon à émission de champ.

Groupe limité à 4 participants.
COLLABORATION
CEA

Session 2017

PRIX PUBLIC

1370 €

DURÉE

3 jours (18 heures)

LIEU ET DATE
Saclay
  • 14-16 novembre 2017
COORDINATION

Responsable(s) pédagogique(s) :

Saclay
  • Mme Servane COSTE-LECONTE
    servane.coste-leconte@cea.fr
    Tél. +33 1 69 08 48 07
CONTACT

Organisatrice(s) formation :

Saclay
  • Mme Fabienne GUYARD
    fabienne.guyard@cea.fr
    Tél. +33 1 69 08 48 46

Réf. 790 - Apprentissage et pratique de la microscopie électronique à balayage

Au format pdf/docx/xlsx, maximum 5Mo
 
Les champs marqués d'une * sont obligatoires

Session 2018

PRIX PUBLIC

1490 €

DURÉE

3 jours (18 heures)

LIEU ET DATE
Saclay
  • 15-17 mai 2018
  • 12-14 juin 2018
  • 13-15 novembre 2018
COORDINATION

Responsable(s) pédagogique(s) :

Saclay
  • M. Bertrand REYNIER
    bertrand.reynier@ensta-paritech.fr
    Tél. +33 1 69 08 01 32
CONTACT

Organisatrice(s) formation :

Saclay
  • Mme Fabienne GUYARD
    fabienne.guyard@cea.fr
    Tél. +33 1 69 08 48 46

Réf. 790 - Apprentissage et pratique de la microscopie électronique à balayage

Au format pdf/docx/xlsx, maximum 5Mo
 
Les champs marqués d'une * sont obligatoires