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841 Caracterisation Couches Minces Par RayonsX
En résumé

2021

4 jours (24 heures et 50 minutes)
Grenoble
  • 14-17 juin 2021

Caractérisation des couches minces par rayons X

Code référence : 841
OBJECTIFS
  • Connaître les principes physiques associés aux techniques de diffraction des rayons X et de réflectométrie.
  • Appréhender les spécificités des mesures sur films minces en diffraction des rayons X en incidence rasante coplanaire (films minces polycristallins) et en réflectométrie X.
  • Acquérir une première expérience pratique permettant de choisir les conditions opératoires les mieux adaptées au matériau étudié.
  • Savoir traiter et interpréter les données expérimentales.

PUBLIC
Ingénieurs, chercheurs ou techniciens supérieurs de laboratoires publics ou industriels travaillant dans le domaine des matériaux.
Public débutant ou ayant une faible expérience dans le domaine de la caractérisation des couches minces par rayons X.
PRÉ-REQUIS

Connaissances de base sur la structure de la matière conseillées. Même si les principes de base sont rappelés lors du stage, une connaissance préalable, voire une pratique de la diffraction des rayons X sur poudre sont un plus pour les bienfaits de la formation.

En cas de format distanciel, les pré-requis techniques sont :

  • Un ordinateur, une tablette tactile ou dispositif équivalent
  • Un micro, web-cam
  • Un accès au réseau internet
CONTENU

Diffraction X en incidence rasante coplanaire

  • Rappels de cristallographie et de radiocristallographie.
  • Rappels sur l'analyse de phase.
  • Diffraction des rayons X en incidence rasante.
  • Montage faisceau parallèle / Montage Bragg-Brentano
  • Spécificités de la diffraction des rayons X en incidence rasante : profondeur de pénétration, analyse des contraintes mécaniques et impact sur l'analyse de structure.
  • Le cas de la diffraction x en incidence rasante non coplanaire - dite "in plane" sera abordée succinctement.

Réflectométrie X

  • Principe et intérêts de la réflectométrie X aux petits angles.
  • Diffusion spéculaire : les relations fondamentales de la réflectométrie X en mode spéculaire.
  • Mesures de densité, d'épaisseur et de rugosité : applications substrat/films minces/multicouches.
  • Choix des configurations expérimentales.
  • Une introduction à la diffusion des rayons X hors spéculaire sera proposée.
MÉTHODE

Exposés et travaux pratiques (procédures d'alignement, choix des conditions opératoires, traitement des données et interprétation).

Groupe limité à 8 participants.

Auto-évaluation des acquis d'apprentissage en fin de session

En raison de l’évolution de la situation sanitaire, cette formation pourra être proposée en format Distanciel. 

COLLABORATION
Conseillers scientifiques : Patrice Gergaud (CEA/DRT/Leti), Stéphane Coindeau (Grenoble INP, CMTC/Simap). La formation est réalisée en collaboration avec le Consortium des moyens technologiques communs (CMTC).

Session 2021

PRIX PUBLIC

2150 €

DURÉE

4 jours (24 heures et 50 minutes)

LIEU ET DATE
Grenoble
  • 14-17 juin 2021
COORDINATION

Responsable(s) pédagogique(s) :

Grenoble
  • M. Pascal REVIRAND
    pascal.revirand@cea.fr
    Tél. +33 4 38 78 41 38
CONTACT

Organisatrice(s) formation :

Grenoble
  • Mme Anne-Sophie BERTIN
    anne-sophie.bertin@cea.fr
    Tél. +33 4 38 78 48 65

Réf. 841 - Caractérisation des couches minces par rayons X

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Session 2022

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